| 专利名称 | 一种单模式突出的双端对谐振式声表面波检测器 | 申请号 | CN201010211433.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101865884A | 公开（授权）日 | 2010.10.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院声学研究所 | 发明（设计）人 | 刘久玲;何世堂;李顺洲;刘明华;李红浪 | 主分类号 | G01N29/036(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N29/036(2006.01)I;G01N29/34(2006.01)I | 专利有效期 | 一种单模式突出的双端对谐振式声表面波检测器 至一种单模式突出的双端对谐振式声表面波检测器 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种单模式突出的双端对谐振式声表面波检测器，该检测器包括制作在压电晶片上3个叉指换能器和2个金属反射栅阵；其中，3个叉指换能器之间的间隔相等，且间隔是叉指换能器0.25波长的0-100倍；第一金属反射栅阵与其相邻第一叉指换能器之间的间隔，第二金属反射栅阵与其相邻第三叉指换能器之间的间隔相等，且间隔是叉指换能器0.25波长的1-10倍；3个叉指换能器的同步频率相等，叉指换能器的同步频率是金属反射栅阵同步频率的0.95-1.05倍，频率响应曲线中的两个纵向模式的能量幅度差距大于5dB。它是一种低插损(小于4dB)、高Q值(大于2000)、两模式之间幅度差距足够大(大于10dB)的声表面波检测器。 |
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