| 专利名称 | 一种聚合物薄膜中单分子链扩散运动轨迹的测定方法 | 申请号 | CN201110038632.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102183497A | 公开（授权）日 | 2011.09.14 | 申请（专利权）人 | 中国科学院化学研究所 | 发明（设计）人 | 陈锐;赵江 | 主分类号 | G01N21/64(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/64(2006.01)I | 专利有效期 | 一种聚合物薄膜中单分子链扩散运动轨迹的测定方法 至一种聚合物薄膜中单分子链扩散运动轨迹的测定方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供了一种聚合物薄膜中单分子链扩散运动轨迹的测定方法。该方法包括如下步骤：1)将荧光探针分子连接到待测聚合物的长链末端得到荧光标记聚合物；2)将所述荧光标记聚合物掺杂于未标记的所述待测聚合物中并制备成聚合物薄膜样品；3)将连续激光照射于所述样品上，得到所述荧光标记聚合物发射的荧光；4)将所述荧光进行聚焦成像得到所述荧光标记聚合物的连续单分子图像；将所述荧光标记聚合物随不同时间的连续单分子图像连接起来即得所述聚合物薄膜中单分子链扩散运动轨迹。本发明的探测方法，运用单分子荧光成像技术，具有单分子级别的灵敏度。 |
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