| 专利名称 | 一种测量高速微粒速度和直径的方法及装置 | 申请号 | CN200610113799.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101165492 | 公开（授权）日 | 2008.04.23 | 申请（专利权）人 | 中国科学院空间科学与应用研究中心 | 发明（设计）人 | 韩建伟;李小银;李宏伟;张振龙;黄建国;全荣辉;封国强;蔡明辉 | 主分类号 | G01P3/66(2006.01)I | IPC主分类号 | G01P3/66(2006.01)I;G01P3/64(2006.01)I;G01B21/10(2006.01)I;G01B7/12(2006.01)I | 专利有效期 | 一种测量高速微粒速度和直径的方法及装置 至一种测量高速微粒速度和直径的方法及装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种测量高速微粒速度和直径的方法及装置。该方法包括步骤： (1)确定微粒的发出时刻和初始位置；(2)利用微粒撞击穿过位于第二位置的对电 极板时产生的等离子体产生脉冲信号；(3)确定脉冲信号产生的时刻为微粒运动到 达第二位置的时刻；(4)通过初始位置、第二位置、微粒发出时刻和到达第二位置 的时刻来确定微粒的平均速度。(5)利用脉冲信号的幅度和相应微粒速度的大小推 导出微粒的直径。该装置包括：直流电源和作为撞击靶的中间夹有绝缘膜的对电极 板组成的回路；第一电阻串联在所述回路中，电压检测装置与第一电阻并联。本发 明优点在于：在线测量、测量精度高、信噪比高、抗电磁干扰能力强、探测效率高、 装置成本低。 |
1、源头对接，价格透明
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