| 专利名称 | 原位微区结构分析与性质测试联合系统 | 申请号 | CN200410070112.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1587977 | 公开（授权）日 | 2005.03.02 | 申请（专利权）人 | 中国科学院物理研究所 | 发明（设计）人 | 白雪冬;王恩哥;薛其坤;王中林;陈东敏 | 主分类号 | G01N13/10 | IPC主分类号 | G01N13/10;G01N27/00;G01N23/225 | 专利有效期 | 原位微区结构分析与性质测试联合系统 至原位微区结构分析与性质测试联合系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种原位微区结构分析与性质测 试联合系统，包括透射电子显微镜和扫描探针显微镜，扫描探 针显微镜包括机械系统和电子学系统，机械系统安装在与透射 电子显微镜样品杆外形尺寸一致的气密的空心杆内，对探针(或 样品)的位置在透射电镜中可观测的空间范围内进行调节，电子 学系统控制机械系统工作并对所测信号进行处理。本系统将透 射电子显微镜和扫描探针显微镜的优势集于一身，实时记录材 料微区原子结构和原位物性，将微区物性与其微观结构直接对 应起来，能可视地操纵扫描探针显微镜的双探针(或样品)，并 对样品进行位置调节和物性测量，可针对个别纳米结构进行再 重入和定位测量。 |
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