| 专利名称 | 一种利用高码率卷积码实现的压缩电路和方法 | 申请号 | CN200410045981.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1584617 | 公开（授权）日 | 2005.02.23 | 申请（专利权）人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明（设计）人 | 韩银和;李晓维 | 主分类号 | G01R31/28 | IPC主分类号 | G01R31/28;H03M13/00 | 专利有效期 | 一种利用高码率卷积码实现的压缩电路和方法 至一种利用高码率卷积码实现的压缩电路和方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及卷积编码设计和芯片可测性设计中 的测试响应压缩电路。首先提出一种码率为n/l，距离为3的卷 积码。根据该卷积码的基本校验矩阵可得到一种单输出时序压 缩电路。当卷积码基本校验矩阵符合三个规则时，所设计的卷 积码的距离就为3。符合这三个规则的基本校验矩阵可用一个 自动方法实现，该方法分为8个步骤。卷积码到测试响应压缩 电路的映射有三个规则，这三个规则均可用程序自动实现。本 发明实现的是单输出压缩电路，所以具有压缩率高的特点。应 用本发明压缩电路的全扫描设计，能够缩短扫描链长度，减少 测试时间。 |
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