| 专利名称 | 基于位平面的不等长的量化/反量化方法 | 申请号 | CN03148032.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1568010 | 公开（授权）日 | 2005.01.19 | 申请（专利权）人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明（设计）人 | 高文;范晓鹏;吕岩 | 主分类号 | H04N7/26 | IPC主分类号 | H04N7/26;H04N5/14;H04N11/02 | 专利有效期 | 基于位平面的不等长的量化/反量化方法 至基于位平面的不等长的量化/反量化方法 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种基于位平面的不等长的量化/ 反量化方法，首先依据预先定义，对量化/反量化前的系数按照 其重要性，依照由高到低的顺序依次从小到大编号；再根据微 调参数，将量化/反量化前的系数划分为重要和不重要两组系 数；根据该两组量化/反量化前的系数以及粗调参数，分别计算 得到各自对应的量化/反量化后的系数。本发明的量化/反量化 方法对于重要系数，量化/反量化的步长短，对于不重要系数， 则使用长的量化/反量化步长；同时，量化/反量化的步长都是2 的幂次，并在给定微调参数和粗调参数后，量化/反量化的步长 只分成两个等级。本发明在量化/反量化过程中，不使用乘法， 而只使用移位运算就可以实现，有利于硬件设计，并且实现简 单。 |
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