| 专利名称 | 一种线间串扰减速效应的时延测试生成方法 | 申请号 | CN200410034865.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1564320 | 公开（授权）日 | 2005.01.12 | 申请（专利权）人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明（设计）人 | 李华伟;李晓维 | 主分类号 | H01L21/70 | IPC主分类号 | H01L21/70;H01L21/66;H01L21/768;H01L21/02 | 专利有效期 | 一种线间串扰减速效应的时延测试生成方法 至一种线间串扰减速效应的时延测试生成方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种线间串扰减速效应的时延测试生成方法，包 括线间串扰源的收集，故障的选择和故障集的精简，以及对精 简后的故障集进行时延测试生成和测试集的精简。对线间串扰 减速效应所引起的性能方面的下降需要进行有针对的时延测 试。步骤如下：步骤1：获取电路时延分配和临界通路；步骤 2：跳变信号预处理；步骤3：临界通路的串扰源收集和故障集 精简；步骤4：增强子通路敏化的时延测试生成和测试集精简。 |
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