| 专利名称 | 基于可满足性的组合电路等价性检验方法 | 申请号 | CN200410007711.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1560769 | 公开（授权）日 | 2005.01.05 | 申请（专利权）人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明（设计）人 | 李光辉;李晓维 | 主分类号 | G06F17/50 | IPC主分类号 | G06F17/50 | 专利有效期 | 基于可满足性的组合电路等价性检验方法 至基于可满足性的组合电路等价性检验方法 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 本发明涉及超大规模集成电路设计验证技术领 域，特别是组合电路的形式验证方法——等价性检验方法。该 方法是以可满足性算法为引擎，增量地验证整个电路设计，所 述方法具有两个阶段，第一阶段是确定两个电路内部的候选等 价信号，并通过电路结构分析，对候选等价信号作静态筛选， 第二阶段是通过子句分组实现增量可满足性方法，并验证每对 候选信号的等价性。其主要特点在于：1)通过电路结构分析对 电路内部的候选等价信号进行筛选，在验证过程中则动态地选 择分割集中的等价信号，保证分割集中信号是相互独立的。2) 通过对子句进行分组，来实现增 量的可满足性算法，节省计算资源，提高算法性能和处理能力。 |
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