| 专利名称 | 包含黑盒的电路设计验证与错误诊断方法 | 申请号 | CN200410039661.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1560918 | 公开（授权）日 | 2005.01.05 | 申请（专利权）人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明（设计）人 | 李光辉;李晓维 | 主分类号 | H01L21/82 | IPC主分类号 | H01L21/82;H01L21/66;G06F17/50 | 专利有效期 | 包含黑盒的电路设计验证与错误诊断方法 至包含黑盒的电路设计验证与错误诊断方法 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 本发明涉及超大规模集成电路的设计验证与错 误诊断技术领域，一种有效的包含黑盒的电路设计验证与错误 诊断方法。该方法首先使用并行逻辑模拟验证含黑盒的设计， 然后用基于可满足性(SAT)的布尔比较增强模拟算法。包含两 个核心步骤：第一步并行逻辑模拟，第二步基于可满足性的布 尔比较。其主要特点：1)使用规范电路的固定型故障测试集并 行模拟含黑盒的设计，模拟过程中用两位布尔值(0和1)编码每 个电路信号。2)在基于可满足性的布尔比较过程中，使用全称 量化的合取范式公式(CNF)表示未知约束。3)该方法不需要修 改电路结构，降低了计算复杂性，可以应用到大型设计验证。 4)该方法可以直接应用于提高设计错误诊断的准确性。 |
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