| 专利名称 | 用于交流扫描测试中的片上快速信号生成电路 | 申请号 | CN200410004831.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1558251 | 公开（授权）日 | 2004.12.29 | 申请（专利权）人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明（设计）人 | 韩银和;李晓维 | 主分类号 | G01R31/28 | IPC主分类号 | G01R31/28;G01R31/303 | 专利有效期 | 用于交流扫描测试中的片上快速信号生成电路 至用于交流扫描测试中的片上快速信号生成电路 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及大规模集成电路结构性测试技术领 域，特别是一种用于交流扫描测试中的片上快速信号生成电 路。由模式计数器，二路选择器，与非门，三输入与门，自锁 的存储单元组成。该电路具有可重配置、只需要高速时钟、结 构简单、延迟小的特点。模式计数器在配置阶段根据配置信号 输入设置模式计数器中的值，此时以低速运行。模式计数器在 计数状态以快速运行，根据模式字的内容产生调制信号和高速 时钟及电路使能信号进行简单运算后即可生成需要的快速捕 捉信号。该捕捉信号可以应用于交流测试中，也可以应用于桥 接故障诊断中作为快速捕捉信号。本发明提出的电路具有和待 测电路无关的特性，因此可以作为一个独立的内核应用于系统 级芯片(SOC)测试。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
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