| 专利名称 | 水平样品几何中子反射谱仪的中子光路的调整机构 | 申请号 | CN201120105951.7 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN202066805U | 公开（授权）日 | 2011.12.07 | 申请（专利权）人 | 中国科学院化学研究所 | 发明（设计）人 | 张红霞;袁光萃;程贺;韩志超 | 主分类号 | G01N23/202(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/202(2006.01)I;G01B15/02(2006.01)I;G01B15/08(2006.01)I;F16M11/26(2006.01)I;F16H37/02(2006.01)I | 专利有效期 | 水平样品几何中子反射谱仪的中子光路的调整机构 至水平样品几何中子反射谱仪的中子光路的调整机构 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及水平样品几何中子反射谱仪的中子光路的调整机构。所述调整机构包括入射升降机构和反射升降机构；沿着入射中子的光路方向，第一入射狭缝座、入射中子飞行管和第二入射狭缝座依次安装在入射升降机构上；沿着反射中子的光路方向，第一反射狭缝座、反射中子飞行管和第二反射狭缝座依次安装在反射升降机构上。本实用新型的调整机构能够高精度地调整所述狭缝和中子飞行管的位置，并能够实现高精度改变中子束的入射角和反射角，获取高分辨率的散射矢量，且中子束的入射角范围达-5°～9°，中子束的反射角范围达-5°～9°，使得测量的散射矢量范围加大。同时，在入反射角范围内，样品能够始终对准中子束。 |
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