| 专利名称 | CT系统的散射校正方法及CT系统 | 申请号 | CN201010574162.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101987021A | 公开（授权）日 | 2011.03.23 | 申请（专利权）人 | 中国科学院深圳先进技术研究院 | 发明（设计）人 | 胡战利;夏丹;桂建保;邹晶;戎军艳;张其阳;郑海荣 | 主分类号 | A61B6/03(2006.01)I | IPC主分类号 | A61B6/03(2006.01)I | 专利有效期 | CT系统的散射校正方法及CT系统 至CT系统的散射校正方法及CT系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种CT系统的散射校正方法，包括以下步骤：获取亮场图像；将散射校正器放置于被扫描物体与探测器之间，进行等角度圆周扫描得到衰减投影图像；分别对被扫描物体和散射校正器进行等角度圆周扫描得到投影图像集和散射校正图像；根据所述亮场图像、散射校正图像以及衰减投影图像生成散射强度分布图；通过所述投影图像集与散射强度分布图之差得到校正后的投影图像集。上述CT系统的散射校正方法及CT系统中，通过将散射校正器置于被扫描物体与探测器之间来消除散射的影响，大大地减少了扫描时间和处理的数据量，有效地提高了效率和精度。 |
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