与微机电系统工艺兼容的参比电极的制备方法

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专利名称 与微机电系统工艺兼容的参比电极的制备方法 申请号 CN02160271.9 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN1514234 公开(授权)日 2004.07.21 申请(专利权)人 中国科学院电子学研究所 发明(设计)人 李华清;蔡新霞;郭增军;崔大付;饶能高 主分类号 G01N27/30 IPC主分类号 G01N27/30;G01N27/26 专利有效期 与微机电系统工艺兼容的参比电极的制备方法 至与微机电系统工艺兼容的参比电极的制备方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明涉及与微机电系统(MEMS)工艺兼容的参 比电极的制备方法,首先将设计好的版图经微电子工艺形成掩 摸板,利用光刻方法形成所需微电极或电极阵列,即可组成电 化学测试系统。本发明以贵金属金Au,铂Pt为电极材料,采 用微机电系统工艺制作成超微薄膜电极阵列以在生化传感器 中的应用为实施例实现了与微机电系统工艺兼容的参比电极 的制备方法及其应用。本发明具有工艺流程简便、快速、重复 性好等优点,易于实现高精度复制和规模化生产,非常适宜于 微系统生物酶传感器阵列的制作,适用各种电化学两电极、三 电极器件或阵列芯片的参比电极的制备,将在生化传感器、生 物芯片以及微系统集成芯片研究开发领域中得到广泛应用。

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