| 专利名称 | 反射法测量有机聚合物薄膜材料的电光系数的方法及装置 | 申请号 | CN200910091416.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101995292A | 公开（授权）日 | 2011.03.30 | 申请（专利权）人 | 中国科学院理化技术研究所 | 发明（设计）人 | 徐光明;甄珍;刘新厚;汪琦 | 主分类号 | G01J1/42(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J1/42(2006.01)I | 专利有效期 | 反射法测量有机聚合物薄膜材料的电光系数的方法及装置 至反射法测量有机聚合物薄膜材料的电光系数的方法及装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及有机聚合物电光材料的表征技术，特别涉及反射法测量有机聚合物薄膜材料的电光系数的方法，及该方法所用的测量装置。本发明装置中的光学元件包括单色光纤激光器、准直器、起偏器、索累-巴比涅补偿器、检偏器和光电探测器；电学元件包括直流/交流滤波器、锁相放大器、双路低频信号发生器和计算机。本发明的方法是采用简单可调的反射光路，结合高性能电学元件，实现聚合物薄膜电光系数的快速测量。本发明克服了直接测量电光系数方法中样品制作复杂、耦合光路调节困难、不能测量损耗介质、不能测量电光系数分布的缺点，直接测量极化后的样品，光路调节简单，数据处理快速可靠，多次测量即可得到电光系数的分布。 |
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