| 专利名称 | 一种荧光化合物及其在检测痕量硝基苯类物质中的应用 | 申请号 | CN201010220624.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101891642A | 公开（授权）日 | 2010.11.24 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 发明（设计）人 | 付艳艳;贺庆国;施立琦;曹慧敏;程建功 | 主分类号 | C07C229/44(2006.01)I | IPC主分类号 | C07C229/44(2006.01)I;C07C227/10(2006.01)I;C07C227/16(2006.01)I;C08G61/12(2006.01)I;G01N33/52(2006.01)I;G01N21/64(2006.01)I | 专利有效期 | 一种荧光化合物及其在检测痕量硝基苯类物质中的应用 至一种荧光化合物及其在检测痕量硝基苯类物质中的应用 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种荧光化合物及其在检测痕量硝基苯类物质中的应用，其特征在于所述的荧光化合物通式为：，式中，n1和n3为1-50的正整数，n2为0-50正整数，n为大于或等于1的任意整数。测定的痕量硝基苯类物质下限可达0.1ppm。 |
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