| 专利名称 | 一种非均匀分布的多基线合成孔径雷达三维成像方法 | 申请号 | CN200910084163.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101893710A | 公开（授权）日 | 2010.11.24 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 王彦平;王斌;洪文;谭维贤;吴一戎 | 主分类号 | G01S13/90(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S13/90(2006.01)I | 专利有效期 | 一种非均匀分布的多基线合成孔径雷达三维成像方法 至一种非均匀分布的多基线合成孔径雷达三维成像方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种非均匀分布的多基线合成孔径雷达三维成像方法，涉及三维成像技术，首先将各次飞行观测得到的原始回波数据通过二维聚焦得到单视复图像，然后将单视复图像序列配准，获取观测目标在不同视角下的非均匀采样数据；针对这些非均匀采样的数据，经过解斜处理进行相位调制；然后使用基于缺失数据幅度相位估计的方法，通过最大化观测数据数学期望的迭代运算，估计出原始均匀采样数据的空间谱，从而实现对目标高度方向的成像；结合每条轨道二维成像中得到的目标二维图像，完成对目标的三维成像。本发明基于幅度相位估计方法进行高度向成像，降低了由于多基线非均匀分布所造成的高程模糊，获取清晰的高分辨率的目标三维成像结果。 |
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