| 专利名称 | 集成电路全速电流测试方法 | 申请号 | CN03125125.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1450357 | 公开（授权）日 | 2003.10.22 | 申请（专利权）人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明（设计）人 | 闵应骅;邝继顺;牛小燕 | 主分类号 | G01R31/28 | IPC主分类号 | G01R31/28;H01L21/66 | 专利有效期 | 集成电路全速电流测试方法 至集成电路全速电流测试方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及集成电路测试方法，其步骤包括：第 一步，确定测试频率，第二步确定测试波形模式，第三步，确 定可测试性测度及其阈值，第四步，测试波形生成，第五步， 运行测试。本发明也可以检测一些用逻辑测试方法不可检测的 故障，即所谓的冗余故障。测试效率高，适应于大批量集成电 路芯片生产线的需要；不需要特别高指标的昂贵的测试仪；故 障覆盖率高，适应于国防、航空航天等高可靠芯片的需求。本 发明提供了对于高达几个GHz的高频数字CMOS集成电路， 直接用其工作频率进行全速电流测试的方法，而测试周期可以 灵活地根据测试仪的测试速度而定，可以慢到毫秒级。 |
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