| 专利名称 | 一种功能-分子-结构成像系统及方法 | 申请号 | CN201110213258.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102429668A | 公开（授权）日 | 2012.05.02 | 申请（专利权）人 | 中国科学院自动化研究所 | 发明（设计）人 | 田捷;杨鑫;钟江宏;秦承虎 | 主分类号 | A61B6/00(2006.01)I | IPC主分类号 | A61B6/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种功能-分子-结构成像系统及方法 至一种功能-分子-结构成像系统及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种针对医学同位素的低成本大视野的功能-分子-结构成像系统及方法。该系统包括：功能-分子-结构成像同轴探测器，对物理成像对象进行扫描，得到物理成像对象的功能与分子成像影像信息和结构成像影像信息，并输出给数据处理装置；数据处理装置，接收和存储功能与分子影像信息和解剖结构信息，进行功能-结构图像的融合计算，绘制多模态融合后的断层图像，并传送至计算机设备予以显示；计算机设备，实现图像重建，并显示功能-分子-结构多模态融合的断层成像。本发明由于采用电荷耦合器件与螺旋CT在同轴孔径位置探测有效信息，相对于PET/CT、SPECT/CT等双模态成像装置扩大了成像轴向视野，降低了全身成像时间，极大地降低了同位素成像成本。 |
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