| 专利名称 | 基于频数直方图测量脉冲激光全脉宽的方法 | 申请号 | CN201010564589.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102062639A | 公开（授权）日 | 2011.05.18 | 申请（专利权）人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明（设计）人 | 王新伟;张欣;周燕;刘育梁 | 主分类号 | G01J11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 基于频数直方图测量脉冲激光全脉宽的方法 至基于频数直方图测量脉冲激光全脉宽的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种基于频数直方图测量脉冲激光全脉宽的方法，该方法通过对采集到的激光时域脉形数据进行频数直方图分析，得到基于频数直方图的分布特征，然后基于该分布特征选取n阶幅值作为阈值，并由该阈值在激光时域脉形中确定一平行于X轴的阈值线，该阈值线与脉形曲线相交，存在多个交点，选取位于脉形峰值点两侧且最近邻峰值点的两交点为测量点，此两测量点间对应的时间宽度便是激光的n阶脉宽。本发明适应性好，测量有效性高，与传统的n％脉宽相比可更为准确地测量激光脉宽。 |
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