| 专利名称 | 一种用于高通量气体样品分析的真空紫外光电离源 | 申请号 | CN201010567335.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102479662A | 公开（授权）日 | 2012.05.30 | 申请（专利权）人 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 发明（设计）人 | 李海洋;花磊;王卫国;谢园园 | 主分类号 | H01J49/16(2006.01)I | IPC主分类号 | H01J49/16(2006.01)I | 专利有效期 | 一种用于高通量气体样品分析的真空紫外光电离源 至一种用于高通量气体样品分析的真空紫外光电离源 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及质谱分析仪器，具体的说是一种用于高通量气体样品分析的真空紫外光电离源，包括电离源腔体和真空紫外光源；于电离源腔体顶部设置有气体入口，气体样品通过气体入口进入到电离源腔体内部；在电离源腔体内部，沿气体样品流动方向依次设置有相互间隔、同轴、平行的离子引出电极、离子漏斗和差分接口极板；真空紫外光源设置于电离源腔体侧壁上，真空紫外光源发出的真空紫外光平行于离子引出电极的极板并穿过极板间相互间隔的区域进入到离子引出极板的通孔区域。本发明的真空紫外光电离源可有效提高整个质谱仪系统的检测灵敏度，在高通量气体样品分析和环境中有机污染物痕量或超痕量检测领域有着广阔的应用前景。 |
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