| 专利名称 | 基于Hadamard矩阵多通道方法的自适应光学系统传递矩阵测量装置及方法 | 申请号 | CN201110322085.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102494785A | 公开（授权）日 | 2012.06.13 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 郭友明;饶长辉 | 主分类号 | G01J9/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J9/00(2006.01)I;G01M9/06(2006.01)I | 专利有效期 | 基于Hadamard矩阵多通道方法的自适应光学系统传递矩阵测量装置及方法 至基于Hadamard矩阵多通道方法的自适应光学系统传递矩阵测量装置及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种基于Hadamard矩阵多通道方法的自适应光学系统传递矩阵测量装置及方法，该装置包括自适应光学系统、通道划分器、波前记录器和数据处理单元；其中，通道划分器对自适应光学系统的波前校正器的驱动器进行通道划分，数据处理单元根据Hadamard矩阵对划分出的通道施加电压，使平面波通过自适应光学系统后产生波前变化，由波前记录器计算并存储波前斜率，最后，数据处理单元对波前斜率矩阵进行矩阵运算，求取传递矩阵。本发明基于Hadamard矩阵多通道方法的自适应光学系统传递矩阵测量装置测量精度高、速度快，为大型自适应光学系统传递矩阵测量提供了一种有效的新方法。 |
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