| 专利名称 | 磁共振弥散张量成像方法及系统 | 申请号 | CN201010613704.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102018514A | 公开（授权）日 | 2011.04.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院深圳先进技术研究院 | 发明（设计）人 | 戴睿彬;吴垠;刘新;郑海荣;邹超;刘伟;寇波 | 主分类号 | A61B5/055(2006.01)I | IPC主分类号 | A61B5/055(2006.01)I | 专利有效期 | 磁共振弥散张量成像方法及系统 至磁共振弥散张量成像方法及系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种磁共振弥散张量成像方法，包括以下步骤：对成像对象进行K空间稀疏采样得到弥散加权参考图像的K空间数据；对所述成像对象进行K空间稀疏采样得到弥散加权图像的K空间数据；通过钥孔成像将所述弥散加权参考图像与所述弥散加权图像的K空间数据进行共享填充；对共享填充后的K空间数据进行图像重建。上述磁共振弥散张量成像方法及系统通过稀疏采样连续快速地获取K空间数据，并在钥孔成像技术的作用下进行共享填充，进而重构完整的数据，缩短了扫描时间，提高数据获取速度，达到快速成像的目的。 |
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