| 专利名称 | 金属性和半导体性碳纳米管的分离方法 | 申请号 | CN201010296333.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102019224A | 公开（授权）日 | 2011.04.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 | 发明（设计）人 | 金赫华;李红波;李清文 | 主分类号 | B03B5/60(2006.01)I | IPC主分类号 | B03B5/60(2006.01)I | 专利有效期 | 金属性和半导体性碳纳米管的分离方法 至金属性和半导体性碳纳米管的分离方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种金属性和半导体性碳纳米管的分离方法。该方法为：将碳纳米管样品分散于分散液中后，添加至填充有填料基质的色谱柱中，再向色谱柱中添加选定的脱洗液，其后根据金属性和半导体性碳纳米管在色谱柱中保留时间的差异，分批收集从色谱柱中流出的金属性、半导体性碳纳米管富集流出液，实现金属性和半导体性碳纳米管的分离。本发明利用廉价设备及简便工序，在短时间内能大量、有效、低成本地分离出粗制碳纳米管中的金属性和半导体性碳纳米管，且分离后的碳纳米管样品状态稳定，无新杂质引入。本发明有利于金属性和半导体性碳纳米管的精度分离和回收，可成为规模化分离碳纳米管的有效途径，并满足工业化生产应用的需要。 |
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