| 专利名称 | 基于平行线的单视平面测量方法 | 申请号 | CN01140336.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1427246 | 公开（授权）日 | 2003.07.02 | 申请（专利权）人 | 中国科学院自动化研究所 | 发明（设计）人 | 王光辉;胡占义 | 主分类号 | G01C11/00 | IPC主分类号 | G01C11/00 | 专利有效期 | 基于平行线的单视平面测量方法 至基于平行线的单视平面测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种基于平行线的单视平面测量方法，包括步 骤：拍摄一幅或多幅被测场景的图像；从图像中提取出场景中 所包含的两组相互垂直的平行线或线段及参考距离信息；计算 出这两组平行线在图像上的消隐点并利用这两个消隐点构造 一个变换矩阵；由此变换矩阵和参考距离求出场景中任意两点 间的距离。本发明提供的测量方法不需要对摄像机参数进行标 定，而且具有简便、实用、测量精度高、鲁棒性好等特点，使 基于视觉的测量方法走向实用。 |
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