有机薄膜晶体管及制备方法

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专利名称 有机薄膜晶体管及制备方法 申请号 CN02130962.0 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN1409417 公开(授权)日 2003.04.09 申请(专利权)人 中国科学院长春应用化学研究所 发明(设计)人 阎东航;袁剑峰 主分类号 H01L51/20 IPC主分类号 H01L51/20;H01L51/30;H01L51/40 专利有效期 有机薄膜晶体管及制备方法 至有机薄膜晶体管及制备方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 一种有机薄膜晶体管,包括衬底(1)、在衬底(1) 上形成的栅极(2),在栅极上面形成栅绝缘层,在绝缘层上形成 源电极(5)和漏电极(6),在源电极(5)及漏电极(6)上形成半导体 有源层(7),绝缘层为不同介电常数的第一绝缘层(3)和第二绝缘 层(4)。本发明在不增加光刻等常规复杂工艺仅增加旋涂或蒸镀 第二层绝缘膜和自对准干法刻蚀两步简单工序的情况下,就可 以改善载流子的注入特性从而提高OTFT器件的性能,而且还 可以阻断栅绝缘膜的漏电流、降低器件的寄生电容。这样,既 可以采用高介电材料作为栅绝缘层,增大沟道电容,降低器件 的开启电压,同时,降低栅源和栅漏漏电流对器件的不利影响。

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