| 专利名称 | 折反射式凸面光栅成像光学系统 | 申请号 | CN02136154.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1391090 | 公开（授权）日 | 2003.01.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 沈蓓军;刘宝丽;刘银年;王建宇;薛永祺 | 主分类号 | G01J3/18 | IPC主分类号 | G01J3/18;G01J3/28 | 专利有效期 | 折反射式凸面光栅成像光学系统 至折反射式凸面光栅成像光学系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种用于机载或星载对地观察超 光谱成像仪的折反射式凸面光栅成像光学系统，该系统通过在 依次由凸球面光栅和凹球面反射镜构成的同轴形式的离轴三 反镜成像光学系统前增加折射透镜，使系统的象差得到进一步 校正，从而保证系统在保持同轴形式的情况下可以获得与离轴 式成像光谱仪相当的像质。该系统结构简单，元件加工及系统 装调较离轴系统容易。它主要应用于机载或星载对地观察超光 谱成像仪器中观察地物的光谱特性，也可用于医学、矿产等领 域对物体的形状及光谱特性进行分析。 |
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