| 专利名称 | 一种用于毫米波和亚毫米波的双模辐射计系统 | 申请号 | CN201110163880.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102253387A | 公开（授权）日 | 2011.11.23 | 申请（专利权）人 | 中国科学院空间科学与应用研究中心 | 发明（设计）人 | 吴季;刘浩;张成;张升伟 | 主分类号 | G01S13/90(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S13/90(2006.01)I;G01S7/02(2006.01)I;G01S13/95(2006.01)I | 专利有效期 | 一种用于毫米波和亚毫米波的双模辐射计系统 至一种用于毫米波和亚毫米波的双模辐射计系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种用于毫米波和亚毫米波的双模辐射计系统，包括一种干涉式综合孔径辐射计和真实孔径辐射计相结合的双模辐射计系统。所述干涉式综合孔径辐射计采用中心空置的环形面天线阵列，所述天线阵列可以绕中心轴在天线阵面内自旋扫描。所述真实孔径辐射计采用大口径反射面天线，所述反射面天线嵌套在所述环形天线阵中心位置，并且可以实现方位向和俯仰向的2-自由度旋转扫描。本发明的优点在于：扩展了毫米波/亚毫米波辐射计系统的观测频段宽度，降低了整体系统的复杂度，提高了系统整体的空间分辨率和成像效率。 |
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