| 专利名称 | 基于集成光波导的衰减全反射光谱测量式傅里叶光谱仪 | 申请号 | CN201010263095.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102374974A | 公开（授权）日 | 2012.03.14 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 祁志美;陈方;刘瑞鹏 | 主分类号 | G01N21/31(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/31(2006.01)I;G01N21/35(2006.01)I;G02B6/12(2006.01)I;G01J3/42(2006.01)I | 专利有效期 | 基于集成光波导的衰减全反射光谱测量式傅里叶光谱仪 至基于集成光波导的衰减全反射光谱测量式傅里叶光谱仪 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种基于集成光波导的衰减全反射(ATR)光谱测量式傅里叶光谱仪，包括一集成光波导电光调制器，一电压函数发生器、一宽带光源、一光电探测器、一信号处理芯片、一具有ATR敏感窗口的光纤。光源光被耦合进入光纤，沿光纤穿过ATR敏感窗口区间后被耦合进入集成光波导电光调制器。利用电压函数发生器给集成光波导电光调制器施加随时间变化的电压，同时利用光电探测器测量集成光波导电光调制器的输出光强度，再用与光电探测器和电压函数发生器相连的信号处理芯片对测得的光信号进行傅里叶变换处理，得到入射光光谱。本发明能测定固体、液体、在敏感窗口表面吸附的单分子层的可见-红外吸收光谱，抗干扰能力强，适用于现场快速定量检测。 |
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