| 专利名称 | 电路时延测试方法 | 申请号 | CN00136116.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1361428 | 公开（授权）日 | 2002.07.31 | 申请（专利权）人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明（设计）人 | 李华伟 | 主分类号 | G01R31/3181 | IPC主分类号 | G01R31/3181 | 专利有效期 | 电路时延测试方法 至电路时延测试方法 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 一种新的可变双观测点的时延测试方法,建立了 可变双观测点的时延测试模型。被测电路的完全时延测试集是 由通路集的一个最大线性无关组中每条通路的波形敏化测试 图形构成的。对每一个测试,按照可变双观测点的时延测试模型 工作的测试仪需要在电路的原始输出采样两次以确定被测通 路的传输延 时是否在预期的正常范围内,采样的时间对不同的测试是可变 的。用该方法实现一种精确测量的时延测试自动生成系统。 |
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