一种硅基III-V族nMOS器件的制作方法

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专利名称 一种硅基III-V族nMOS器件的制作方法 申请号 CN201310068781.3 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN103107096A 公开(授权)日 2013.05.15 申请(专利权)人 中国科学院半导体研究所 发明(设计)人 周旭亮;于红艳;李梦珂;潘教青;王圩 主分类号 H01L21/336(2006.01)I IPC主分类号 H01L21/336(2006.01)I 专利有效期 一种硅基III-V族nMOS器件的制作方法 至一种硅基III-V族nMOS器件的制作方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明公开了一种硅基III-V族nMOS器件的制作方法,包括以下步骤:步骤1:在硅衬底上,生长锗层;步骤2:将生长了锗层的硅衬底放入MOCVD反应室中,分别生长低温成核砷化镓层和高温砷化镓层;步骤3:停止生长,更换衬底舟和反应室内管,高温退火30分钟后,在高温砷化镓层上生长半绝缘InGaP层;步骤4:在半绝缘InGaP层上生长薄砷化镓层以及砷化镓基nMOS结构;步骤5:制作栅氧化物、源极、栅极和漏极,完成硅基III-V族nMOS器件的制备。

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