| 专利名称 | 全光纤大范围位移测量仪 | 申请号 | CN01126555.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1335482 | 公开（授权）日 | 2002.02.13 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 王向朝;步扬;王学峰 | 主分类号 | G01B9/02 | IPC主分类号 | G01B9/02;G01B11/04 | 专利有效期 | 全光纤大范围位移测量仪 至全光纤大范围位移测量仪 | 法律状态 | 公开 | 说明书摘要 | 一种全光纤大范围位移测量仪,包括两个被调制 的原光源。两原光源发射的调制光束经过全光纤连接的三个环 形器和两个光纤耦合器分别到达参考反射元件和被测物体。由 参考反射元件和被测物体反射回来的光束在光纤耦合器中产 生干涉。光电转换元件将接收到的干涉信号转换为电信号,一路 经过数模转换器送到计算机。另一路经过反馈控制电路分别送 到第一驱动电源和第二驱动电源。本发明与在先技术相比,本发 明采用了光热光频调制,采用了全光纤代替在先技术中的透 镜、分束器等光学元件,所以,本发明体积小,重量轻,结构紧凑, 抗干扰能力强,测量精度高,测量范围由在先技术的数百纳米扩 大到厘米量级。 |
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