| 专利名称 | 一种基于相变图分析的稀疏微波成像雷达性能评估方法 | 申请号 | CN201110309975.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103048649A | 公开（授权）日 | 2013.04.17 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 洪文;张冰尘;吴一戎;田野 | 主分类号 | G01S7/40(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S7/40(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于相变图分析的稀疏微波成像雷达性能评估方法 至一种基于相变图分析的稀疏微波成像雷达性能评估方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供了一种基于相变图分析的稀疏微波成像雷达性能评估方法，涉及雷达成像技术，根据稀疏微波成像雷达原理，建立以信噪比、稀疏度和采样比为坐标轴的雷达成像性能相变图；借用相变曲面刻画出稀疏微波成像雷达性能随信噪比、稀疏度和采样比的变化趋势；并利用该边界曲面将相变图划分为可重建区域和不可重建区域，从而定量分析得出稀疏微波成像雷达性能。本发明方法采用正确重建率和相对均方误差作为判别标准，大大降低了计算量，为稀疏微波成像雷达性能分析提供了一种高效评估方法。 |
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