| 专利名称 | 一种光电跟踪系统及隔振装置组成整体的频率响应特性分析方法 | 申请号 | CN201110380772.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102426419A | 公开（授权）日 | 2012.04.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 马佳光;于伟;田竞;包启亮;毛耀;李锦英 | 主分类号 | G05B13/04(2006.01)I | IPC主分类号 | G05B13/04(2006.01)I | 专利有效期 | 一种光电跟踪系统及隔振装置组成整体的频率响应特性分析方法 至一种光电跟踪系统及隔振装置组成整体的频率响应特性分析方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种光电跟踪系统及隔振装置组成整体的频率响应特性分析方法。针对光电跟踪系统安装在隔振装置上后频率响应特性发生变化这一问题，本发明将隔振装置等效为安装在光电跟踪系统基座底部的弹性支撑和阻尼连接，将其与光电系统的机架和基座作为一个整体，分析该整体作为被控对象时的频率响应特性。具体方法为，将隔振装置和光电跟踪系统看做一个完整系统，首先分析该系统各个部件间的动力学关系；再由动力学关系的相关公式根据实际需要推导出频率响应特性。本发明通过分析整体作为被控对象时的频率响应特性有助于减小隔振装置带来的不利影响。 |
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