| 专利名称 | 电路测试系统及方法 | 申请号 | CN201210295582.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102778647A | 公开（授权）日 | 2012.11.14 | 申请（专利权）人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明（设计）人 | 赵建领;刘聪展 | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 专利有效期 | 电路测试系统及方法 至电路测试系统及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本申请公开了一种电路测试系统及方法，属于电路测试领域。该系统包括：引脚接入模块，用于连接待测试电路的引脚，包括第一电子开关；交叉矩阵模块，用于通过引脚接入模块连接所述待测试电路的引脚，包括第二电子开关；处理模块，用于获取、发送并记录操作指令、操作指令对应的测试过程信息和测试结果数据；接口通信模块，连接所述处理模块，用于获取并发送操作指令，测试过程信息和测试结果数据；控制模块，用于根据操作指令控制第一电子开关和所述第二电子开关，以实现待测试电路的引脚互联操作以及对待测试电路的信号测试操作，并通过通信接口模块向处理模块发送测试过程信息和测试结果数据。本申请可以减低电路测试成本，提高测试效率。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
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