长波长扫描近场显微分析系统

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成果详情

本发明提供了一种长波长扫描近场显微分析系统。该长波长扫描近场显微分析系统集成宽频长波长和单频太赫兹波、利用扫描探针、集成可变电场、可变磁场、可变温度场的近场显微分析系统，填补了在近场显微领域里长波段的技术空白，连接起近场光学显微技术、近场微波显微技术，为科研人员提供了一种全方位的样品物性测试工具。

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