CCD/CMOS探测器光谱/辐射响应性能测试装置

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应用领域 光机电一体化 技术领域 先进制造技术 技术成熟度 已有样品 交易类型 完全转让,许可转让,技术入股

成果详情

200nm~2500nm宽波段相对光谱响应度测量辐射光源中心40mm×40mm区域辐照度非均匀性小于1% ●技术参数：中心波长精度优于±1nm 峰值波长精度优于±1nm 光谱带宽测量精度优于±0.5nm 相对光谱响应度测量精度优于±2% 非均匀性标定误差优于±1% 像素不均匀性测量精度优于±1% ●应用领域： CCD/CMOS探测器光谱/辐射响应性能测试

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